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蔚華科推微裂紋快速掃描系統 搶TGV檢測商機

半導體設備廠蔚華科董事長秦家騏今天表示,當前營運重心是發展自製設備,矽穿孔(TSV)檢測設備已出貨客戶,並推出TGV微裂紋快速掃描系統,瞄準先進封裝玻璃通孔(TGV)檢測商機。

台湾中央社張建中查看原文 ↗
蔚華科推微裂紋快速掃描系統 搶TGV檢測商機

(中央社記者 張建中 新竹8日電)半導體設備廠蔚華科董事長秦家騏今天表示,當前營運重心是發展自製設備,矽穿孔(TSV)檢測設備已出貨客戶,並推出TGV微裂紋快速掃描系統,瞄準先進封裝玻璃通孔(TGV)檢測商機。

蔚華科今天舉辦先進封裝關鍵技術論壇,秦家騏受訪說,新推出的SP7000G TGV微裂紋快速掃描系統具備快速掃描能力,針對510mmx515mm玻璃基板,可在20分鐘完成全片掃描。

蔚華科總經理楊燿州表示,檢測是TGV發展最大的瓶頸,隨著蔚華科推出TGV檢測設備,可檢測金屬化後與ABF增層後玻璃基板內部微裂紋,將有助提升廠商良率提升,加速TGV進展。

秦家騏說,隨著自製設備產品效益逐步顯現,明年營運表現可望優於今年水準。

蔚華科先進封裝關鍵技術論壇邀請康寧(Corning)及大日本印刷(DNP)專家,分享TGV製程、封裝可靠度及檢測等發展。(編輯:楊凱翔)1150908

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